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我司在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。2017-01-13

    我司于20171月在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。该探针台配置四个三同轴探针臂和两个光纤探针臂,漏电流优于50fA。该探针台变温范围大(8K-675K我司提供Keithley 4200半导体特性仪,并提供集成变温IVCV和输运和转移特性等测试软件。


    

          变温测量IVVI曲线           变温场效应管(横坐标Vgs纵坐Ids

                                不同曲线代表不同的Vds和温度)

                  

   

变温场效应管(横坐标Vds,纵坐标Ids,       变温CV测试(横坐标电压,纵坐标

不同曲线代表不同的Vgs和温度)             电容,不同曲线代表不同温度)